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Park NX7原子力顯微鏡配有Park原子力顯微鏡前沿技術,其設計與新型顯微鏡一樣彰顯細節品質,可以有效助您取得精準的研究成果。
ü 獨立閉環XY和Z柔性掃描器
ü 正交XY掃描
ü 樣品表面形貌信息測量精準,無需軟件處理
ü 涵蓋多種掃描探針顯微鏡的掃描模式
ü 更智能的NX電子控制器默認啟用高級納米機械測量模式
ü 擁有業界前沿的兼容性和可升級性
ü 方便樣品或換針的開放式使用
ü 預對準的探針夾設計,可輕易直觀的進行SLD光校準
ü Park SmrtScanTM - 原子力顯微鏡操作軟件可以幫助初次使用用戶和專業用戶進 行專業的納米級研究。
Park的核心技術在于專有的掃描器架構?;讵毩Y掃描器和Z掃描器設計的撓曲結構,能讓您輕松獲得高精度納米級分辨率數據。
Park AFM 配備了低噪聲Z探測器,噪音水平低于0.02 nm,因而達到了樣品形貌成像精準,沒有邊沿過沖無需校準的高效率。Park NX系列不僅為您提供高精準的數據,更為您大大節省了時間成本。
ü 利用低噪聲Z探測器信號進行形貌成像
ü 有高寬帶,Z探測器低噪聲只有0.02 nm
ü 邊緣位置無前沿或后沿過沖現象
ü 只需在原廠校準一次
樣品: 1.2 μm標準臺階高度
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)
柔性引導高推動力掃描器
Z掃描范圍: 15 μm (30 μm可選)
閉環控制式單模塊柔性XY掃描器
掃描范圍: 50 µm × 50 µm
(可選 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)
Z位移臺行程范圍: 26 mm
XY位移臺行程范圍: 13 mm X 13 mm
樣品大小 : up to 50 mm
樣品厚度: up to 20 mm
AFM系統控制和數據采集軟件
智能模式的快速設置和簡易成像
手動模式的高級使用和更精密的掃描控制
AFM數據分析軟件
獨立設計—可以安裝和分析AFM以外的數據
能夠生成采集數據的3D繪制
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